基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计

PDF(236 KB)

电子学报 ›› 2005, Vol. 33 ›› Issue (11) : 1965-1968.

论文

作者信息 +

Estimation of Early-Life Reliability Based on Integrated-Circuit Yield Model

Author information +

文章历史 +

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2005, 33(11): 1965-1968.

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2005, 33(11): 1965-1968.

中图分类号：

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

PDF(236 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航