IC缺陷轮廓分形维估计的小波方法

孙晓丽, 郝跃, 宋国乡

电子学报 ›› 2006, Vol. 34 ›› Issue (8) : 1485-1487.

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IC缺陷轮廓分形维估计的小波方法

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Estimating the Fractal Dimension of IC Defect Outline by Wavelet

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2006, 34(8): 1485-1487.
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2006, 34(8): 1485-1487.
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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