基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估

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电子学报 ›› 2011, Vol. 39 ›› Issue (6) : 1253-1256.

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Reliability Assessment for Long-Life Products Based on ADT with Tightened Critical Values

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2011, 39(6): 1253-1256.

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