微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

doi:10.3969/j.issn.0372-2112.2015.06.028

电子学报 ›› 2015, Vol. 43 ›› Issue (6): 1224-1230.DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2015.06.028

微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

白明, 欧乃铭, 苗俊刚

北京航空航天大学电子信息工程学院, 北京 100191

收稿日期:2013-04-02 修回日期:2014-06-04 出版日期:2015-06-25
- 作者简介:
- 白明 男,1973年5月生于吉林省吉林市,博士,副教授.主要研究方向为微波成像技术,计算电磁学. E-mail:mbai@buaa.edu.cn; 欧乃铭 男,1986年4月生于河北省唐山市,博士.主要研究方向为相控阵及反射面天线技术,计算电磁学. E-mail:ocean@ee.buaa.edu.cn; 苗俊刚 男,1963年7月出生于河北省石家庄市,博士,教授.主要研究方向为电磁场理论,微波工程技术,微波遥感技术. E-mail:jmiaobremen@tom.com

The Detection Methods for Locating the Electromagnetic Leakage Position on the Surface of Microwave Equipment

BAI Ming, OU Nai-ming, MIAO Jun-gang

School of Electronics and Information Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China

Received:2013-04-02 Revised:2014-06-04 Online:2015-06-25 Published:2015-06-25

摘要/Abstract

摘要：

针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究,根据其表面等效辐射源形式的不同,设计了不同的检测方法,并提出了相应的实验测试方案.其中,综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相干源的情况;数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况;物理透镜成像的方法适用于表面等效辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况.

关键词: 电磁泄漏, 微波设备, 成像, 综合孔径, 数字透镜, 物理透镜

Abstract:

The detection methods for locating the electromagnetic leakage position on the surface of microwave equipment are researched.According to the different style of the equivalent radiation source, several different detection methods are designed, and the corresponding experimental test plans are also presented.Among them, the synthetic aperture passive radiometer imaging method is suitable for the situation that the equivalent radiation source is incoherent;the digital lens imaging method is suitable for the situation that the equivalent radiation source is coherent;the physical lens imaging method is suitable for all the three situations that the equivalent radiation sources are incoherent, coherent and partial coherent.

Key words: electromagnetic leakage, microwave equipment, imaging, synthetic aperture, digital lens, physical lens

中图分类号:

TN806

白明, 欧乃铭, 苗俊刚. 微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究[J]. 电子学报, 2015, 43(6): 1224-1230.

BAI Ming, OU Nai-ming, MIAO Jun-gang. The Detection Methods for Locating the Electromagnetic Leakage Position on the Surface of Microwave Equipment[J]. Acta Electronica Sinica, 2015, 43(6): 1224-1230.

参考文献

[1] KANTOR R, SHVETS I V.Measurement of electric field intensities using scanning near-field microwave microscopy[J].IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2003, 51(11):2228-2234.
[2] HANSEN T B, YAGHJIAN A D.Formulation of probe-corrected planar near-field scanning in the time domain[J].IEEE Transactions on Antennas and Propagation, 1995, 43(6):569-584.
[3] RUF C S, SWIFT C T, TANNER A B, et al.Interferometric synthetic aperture microwave radiometry for the remote sensing of the earth[J].IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing, 1988, 26(5):597-611.
[4] PEICHL M, SUESS M, KERN S, et al.Microwave imaging of the brightness temperature distribution of extended areas in the near and far field using two-dimensional aperture synthesis with high spatial resolution[J].Radio Science, 1998, 33(3):781-801.
[5] LAURSEN B, SKOU N.Synthetic aperture radiometry evaluated by a two-channel demonstration model[J].IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing, 1998, 36(3):822-832.
[6] GOODMAN J.Introduction to Fourier Optics[M].2nd ed.New York:McGraw-Hill Book Co, 1996.96-125.
[7] GOLDSMITH P F, HSIEH C T, HUGUENIN G R, et al.Focal plane imaging systems for millimeter wavelengths[J].IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1993, 41(10):1664-1675.
[8] TANNER A, LAMBRIGSTEN B, GAIER T, et al.Near field characterization of the GeoSTAR demonstrator[A].IEEE International Conference on Geoscience and Remote Sensing Symposium, 2006[C].Piscataway, NJ:IEEE, 2006.2529-2532.
[9] LAMBRIGTSEN B, WILSON W, TANNER A, et al.GeoSTAR-A synthetice aperture approach for a geostationary microwave sounder[A].IEEE Aerospace Conference, 2004[C].Piscataway, NJ:IEEE, 2004.1008-1014.
[10] MARTIN-NEIRA M, MENARD Y, GOUTOULE J M, et al.MIRAS, a two-dimensional aperture synthesis radiometer[A].IEEE International Conference on Geoscience and Remote Sensing Symposium, 1994[C].Piscataway, NJ:IEEE, 1994.1323-1325.

[1]	董健, 栾英宏, 赵永涛, 孙彦龙, 冯剑锋, 姜丽菲, 赵锋, 徐红新. 一维综合孔径辐射计相位定标研究[J]. 电子学报, 2022, 50(9): 2127-2133.
[2]	张继龙, 李业振, 刘勇, 王栋. 基于透镜成像原理的微波阵列快速成像技术[J]. 电子学报, 2022, 50(5): 1107-1116.
[3]	梁丁丁, 陈阳. 微波光子四倍频复合雷达信号生成及目标多维度探测[J]. 电子学报, 2022, 50(4): 796-803.
[4]	杨晓城, 杨真乙, 阎敬业, 武林, 蒋明峰. 基于拉普拉斯算子的综合孔径辐射计成像算法[J]. 电子学报, 2022, 50(2): 339-345.
[5]	田典, 余宁梅, 周广霖, 李娜. 双线阵无透镜超分辨率扫描成像方法研究[J]. 电子学报, 2022, 50(10): 2503-2516.
[6]	王兵兵, 王晓东, 陈雨璐, 张传胜, 臧元章, 潘鸣, 曹俊诚. 硅基阻挡杂质带太赫兹探测器及其成像研究[J]. 电子学报, 2021, 49(9): 1867-1872.
[7]	常琦, 孟瑶, 赵恒. 基于概率成像的二维波束聚焦冲击定位方法研究[J]. 电子学报, 2021, 49(7): 1339-1345.
[8]	姜海峰, 陈国彬, 郭志刚, 和文豪, 顾邦兴, 王昊, 杜关祥. 基于NV色心的晶体管放大器近场分布成像[J]. 电子学报, 2020, 48(8): 1631-1634.
[9]	于洋, 王子野, 乔灵博, 赵自然. 基于贝塞尔波束的大景深毫米波介质透镜天线设计[J]. 电子学报, 2020, 48(7): 1369-1374.
[10]	吴金, 郑丽霞, 王力, 田江江, 张伟东, 何维捷, 孙伟锋. 基于SiC APD的日盲紫外单光子计数读出电路设计与应用[J]. 电子学报, 2020, 48(7): 1448-1452.
[11]	张清河, 于士奇, 时李萍, 张士惠. 对比源框架下的多任务贝叶斯压缩感知微波成像方法[J]. 电子学报, 2020, 48(11): 2208-2214.
[12]	郭志刚, 陈国彬, 顾邦兴, 和文豪, 姜海峰, 王昊, 杜关祥. 基于金刚石NV色心的带状线芯片微波场成像[J]. 电子学报, 2020, 48(11): 2258-2262.
[13]	沈乐, 刘琼. 概率图车载热成像行人检测RoIs提取方法[J]. 电子学报, 2020, 48(10): 1909-1914.
[14]	樊亚红, 刘宾, 陈平, 潘晋孝, 李毅红. 基于轮廓先验约束的复杂异形工件CT成像方法研究[J]. 电子学报, 2020, 48(10): 1976-1982.
[15]	龙邦媛, 李康, 吕发金, 吕宗伟. 基于改进导向滤波算法的低剂量CT图像处理[J]. 电子学报, 2019, 47(7): 1490-1496.

微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

The Detection Methods for Locating the Electromagnetic Leakage Position on the Surface of Microwave Equipment

PDF

可视化

摘要/Abstract

引用本文

使用本文

参考文献

相关文章 15

编辑推荐

Metrics