电子学报 ›› 2015, Vol. 43 ›› Issue (6): 1224-1230.DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2015.06.028

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微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

白明, 欧乃铭, 苗俊刚   

  1. 北京航空航天大学电子信息工程学院, 北京 100191
  • 收稿日期:2013-04-02 修回日期:2014-06-04 出版日期:2015-06-25
    • 作者简介:
    • 白 明 男,1973年5月生于吉林省吉林市,博士,副教授.主要研究方向为微波成像技术,计算电磁学. E-mail:mbai@buaa.edu.cn; 欧乃铭 男,1986年4月生于河北省唐山市,博士.主要研究方向为相控阵及反射面天线技术,计算电磁学. E-mail:ocean@ee.buaa.edu.cn; 苗俊刚 男,1963年7月出生于河北省石家庄市,博士,教授.主要研究方向为电磁场理论,微波工程技术,微波遥感技术. E-mail:jmiaobremen@tom.com

The Detection Methods for Locating the Electromagnetic Leakage Position on the Surface of Microwave Equipment

BAI Ming, OU Nai-ming, MIAO Jun-gang   

  1. School of Electronics and Information Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China
  • Received:2013-04-02 Revised:2014-06-04 Online:2015-06-25 Published:2015-06-25

摘要:

针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究,根据其表面等效辐射源形式的不同,设计了不同的检测方法,并提出了相应的实验测试方案.其中,综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相干源的情况;数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况;物理透镜成像的方法适用于表面等效辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况.

关键词: 电磁泄漏, 微波设备, 成像, 综合孔径, 数字透镜, 物理透镜

Abstract:

The detection methods for locating the electromagnetic leakage position on the surface of microwave equipment are researched.According to the different style of the equivalent radiation source, several different detection methods are designed, and the corresponding experimental test plans are also presented.Among them, the synthetic aperture passive radiometer imaging method is suitable for the situation that the equivalent radiation source is incoherent;the digital lens imaging method is suitable for the situation that the equivalent radiation source is coherent;the physical lens imaging method is suitable for all the three situations that the equivalent radiation sources are incoherent, coherent and partial coherent.

Key words: electromagnetic leakage, microwave equipment, imaging, synthetic aperture, digital lens, physical lens

中图分类号: