电子学报 ›› 2012, Vol. 40 ›› Issue (5): 1030-1033.DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.05.027
梁华国1, 李鑫2, 陈田2, 王伟2, 易茂祥1
LIANG Hua-guo1, LI Xin2, CHEN Tian2, WANG Wei2, YI Mao-xiang1
摘要: 本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265%,并且能很好地适用于传统的EDA设计流程.
中图分类号: