CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究

陈晓娟, 陈东阳, 吴洁

电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (11) : 2646-2652.

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电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (11) : 2646-2652. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
学术论文

CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Investigation on Low-Frequency Noise Models and Representation for Reliability of CMOS Inverter

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2016, 44(11): 2646-2652 https://doi.org/10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2016, 44(11): 2646-2652 https://doi.org/10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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