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并发程序变异测试研究综述
田甜, 巩敦卫
Survey on Mutation Testing of Concurrent Programs
TIAN Tian, GONG Dun-wei
电子学报 . 2020, (11): 2267 -2277 .  DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2020.11.025

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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