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基于预测兰姆波参考信号的缺陷概率成像
陈晓, 戴杰
Probability Imaging for Defects Using Predicted Lamb Wave Reference Signal
CHEN Xiao, DAI Jie
电子学报 . 2024, (9): 3262 -3271 .  DOI: 10.12263/DZXB.20230878

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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