学会官网  |  加入学会  |  登录学会  |  English 
电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究
唐本奇;王祖军;刘敏波;肖志刚;张勇;黄绍艳
Cobalt-60 Experiment on Ionization Radiation Effects of Charge Coupled Devices
TANG Ben-qi;WANG Zu-jun;LIU Min-bo;XIAO Zhi-gang;ZHANG Yong;HUANG Shao-yan
电子学报 . 2010, (5): 1192 -1195 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
通讯地址：北京165信箱《电子学报》编辑部
邮政编码：100036
联系电话：010-68600735
电子邮箱：new@ejournal.org.cn
电子学报微信公众号
中国电子学会微信
京ICP备12041980号-1　版权所有 ©《电子学报》编辑部