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基于性能退化数据的金属化膜电容器可靠性评估
赵建印, 刘芳, 孙权, 周经伦
Reliability Estimate of Metallized-Film Pulse Capacitor from Degradation Data
ZHAO Jian-yin, LIU Fang, SUN Quan, ZHOU Jing-lun
电子学报 . 2005, (2): 378 -381 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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