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基于Markov过程的硬/软件综合系统可靠性分析
于敏;何正友;钱清泉
Reliability Analysis of Combined Hardware/Software System Based on Markov Process
YU Min;HE Zheng-you;QIAN Qing-quan
电子学报 . 2010, (2): 473 -479 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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