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基于RAS结构优化测试时间和 数据量的测试方案
梁华国;祝沈财;陈 田;张 念
A Test Scheme Based on RAS Structure to Reduced Test Volume and Time
LIANG Hua-guo;ZHU Shen-cai;CHEN Tian;ZHANG Nian
电子学报 . 2008, (12): 2418 -2422 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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