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片上栅氧经时击穿失效监测电路与方法
辛维平, 庄奕琪, 李小明
An On-Chip Circuit for Monitoring Failure Due to TDDB
XIN Wei-ping, ZHUANG Yi-qi, LI Xiao-ming
电子学报 . 2012, (11): 2188 -2193 .  DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.11.008

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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