学会官网  |  加入学会  |  登录学会  |  English 
基于性能退化的电子产品筛选试验设计
钟强晖, 张志华, 李大伟
Screening Test Design for Electronics Based on Performance Degradation
ZHONG Qiang-hui, ZHANG Zhi-hua, LI Da-wei
电子学报 . 2013, (9): 1788 -1793 .  DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.09.019

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
通讯地址：北京165信箱《电子学报》编辑部
邮政编码：100036
联系电话：010-68600735
电子邮箱：new@ejournal.org.cn
电子学报微信公众号
中国电子学会微信
京ICP备12041980号-1　版权所有 ©《电子学报》编辑部