共面波导金属条带展宽新公式

蒋振新; 丁桂甫; 杨春生; 张永华; 沈民谊

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共面波导金属条带展宽新公式

论文 | 更新时间：2025-07-16

- 共面波导金属条带展宽新公式
- Novel Correction Formula of Strip Width for CPW with Nonzero Metallization Thickness
- 电子学报 2004年32卷第9期页码：1532-1535
- 作者机构：
  
  上海交通大学微纳米科学研究院薄膜与微细加工技术教育部重点实验室,上海,200030
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  电科院预研课题 (No.024130805);国家自然科学基金课题 (No.10377009);国防重点实验室基金项目 (No.51485020JW301)
- DOI：
  中图分类号： TN.817
- 网络出版：2004-09-25，
  
  纸质出版：2004
- 稿件说明：
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蒋振新, 丁桂甫, 杨春生, 等. 共面波导金属条带展宽新公式[J]. 电子学报, 2004,32(9):1532-1535.

JIANG Zhen-xin, DING Gui-fu, YANG Chun-sheng, et al. Novel Correction Formula of Strip Width for CPW with Nonzero Metallization Thickness[J]. Acta Electronica Sinica, 2004, 32(9): 1532-1535.
蒋振新, 丁桂甫, 杨春生, 等. 共面波导金属条带展宽新公式[J]. 电子学报, 2004,32(9):1532-1535. DOI：

JIANG Zhen-xin, DING Gui-fu, YANG Chun-sheng, et al. Novel Correction Formula of Strip Width for CPW with Nonzero Metallization Thickness[J]. Acta Electronica Sinica, 2004, 32(9): 1532-1535. DOI：

摘要

针对需要考虑金属条带厚度效应的共面波导建立了近似的准静态求解模型

编制了相应的计算机程序

求出了金属条带展宽的数值解

接着用最小二乘法和多元曲线拟合进行了处理

得到了金属条带展宽新的闭定表达式

并导出了相应的形状比系数、特征阻抗、损耗等闭定表达式.然后用这些表达式计算了特征阻抗及损耗

并与K C 格普塔公式的计算值和实验值进行了详细比较

结果表明新公式的误差降到K C 格普塔公式的13.0~31.3%.新公式更有利于精确设计金属厚度效应不可忽略的共面波导.

Abstract

Approximate conformal mapping technique has been employed to analyze the effect of finite metellization thickness of CPW theoretically

therefore numerical computations and some corresponding numerical processes are carried out.As a result

a new accurate correction formula of strip width is presented.In addition

the closed form formulas of characteristic impedance and attenuation are derived from it.Finally

the computation results based on these new formulas are compared with those of K.C.Gupta formula's and experimental values.It shows that the errors of new formulas are dramatically decreased

which are only 13.0~31.3% of K.C.Gupta formula's.This results suggest that the new formulas will play an important role in characterizing CPW precisely instead of K.C.Gupta formula.

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