基于改进均值标准差曲线描述子的反射对称轴检测

刘红敏; 熊文俊; 赵伟; 王志衡; 王静

doi:10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.021

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基于改进均值标准差曲线描述子的反射对称轴检测

学术论文 | 更新时间：2025-07-16

- 基于改进均值标准差曲线描述子的反射对称轴检测
- Reflection Symmetry Axis Detection Based on Improved Mean-Standard Deviation Curve Descriptor
- 电子学报 2017年45卷第7期页码：1701-1706
- 作者机构：
  
  1. 河南理工大学计算机科学与技术学院,河南,焦作,454000
  3. 西安电子科技大学计算机学院,陕西,西安,710071
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金 (No.61272394，No.61472119，No.61572173，No.61472373，No.61401150）;河南理工大学创新型科研团队项目 (No.T014-3）;河南理工大学杰出青年基金 (No.J2016-3）
- DOI：10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.021
  中图分类号： TP37
- 网络出版：2017-07-25，
  
  纸质出版：2017
- 稿件说明：
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刘红敏, 熊文俊, 赵伟, 等. 基于改进均值标准差曲线描述子的反射对称轴检测[J]. 电子学报, 2017,45(7):1701-1706.

LIU Hong-min, XIONG Wen-jun, ZHAO Wei, et al. Reflection Symmetry Axis Detection Based on Improved Mean-Standard Deviation Curve Descriptor[J]. Acta Electronica Sinica, 2017, 45(7): 1701-1706.
刘红敏, 熊文俊, 赵伟, 等. 基于改进均值标准差曲线描述子的反射对称轴检测[J]. 电子学报, 2017,45(7):1701-1706. DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.021.

LIU Hong-min, XIONG Wen-jun, ZHAO Wei, et al. Reflection Symmetry Axis Detection Based on Improved Mean-Standard Deviation Curve Descriptor[J]. Acta Electronica Sinica, 2017, 45(7): 1701-1706. DOI： 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.021.

摘要

针对反射对称轴难以检测的问题，该文提出一种基于改进均值标准差曲线描述子（Mean-Standard deviation Curve Descriptor，MSCD）的反射对称轴检测算法.该算法首先对MSCD曲线描述子进行改进，使其具有镜像反射不变性并实现对称曲线对检测；然后采用距离约束并使用Hough变换获取图像的局部对称轴；最后通过局部对称轴合并得到最终对称轴.实验结果表明，该算法可实现图像的单对称轴和多对称轴检测，在亮度变化、对比度变化、噪声污染、模糊以及形变情况下，均能够准确定位图像对称轴并具有较强鲁棒性.

Abstract

Due to the difficulty in detecting reflection symmetry axis

a detection algorithm based on improved mean-standard deviation curve descriptor (MSCD) is proposed.Firstly

the proposed algorithm improves the MSCD so that its mirror reflection invariance can guarantee the accurate detection of the symmetrical curve pairs.Then the distance constraint and Hough transform is used to gain local symmetry axis of the image.Finally

final symmetry axis can be acquired by merging the local ones.Experimental results show that the proposed algorithm can realize the symmetric axis detection for image with both single symmetric axis and multi ones.Besides

it can locate the image symmetry axis precisely and robustly under brightness changes

contrast changes

noise pollution

fuzzy and deformations.

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