纳米级CMOS集成电路的单粒子效应及其加固技术

赵元富, 王亮, 岳素格, 孙永姝, 王丹, 刘琳, 刘家齐, 王汉宁

电子学报 ›› 2018, Vol. 46 ›› Issue (10) : 2511-2518.

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电子学报 ›› 2018, Vol. 46 ›› Issue (10) : 2511-2518. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.10.027
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纳米级CMOS集成电路的单粒子效应及其加固技术

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Single Event Effect and its Hardening Technique in Nano-scale CMOS Integrated Circuits

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