基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

王 伟, 韩银和, 李晓维, 张佑生

电子学报 ›› 2006, Vol. 34 ›› Issue (2) : 282-286.

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电子学报 ›› 2006, Vol. 34 ›› Issue (2) : 282-286.
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基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

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Techniques of Leakage Current Optimization Based on Don’t Care Bits in Test Vectors

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