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深亚微米槽栅NMOSFET结构参数对其抗热载流子特性的影响
任红霞;郝 跃;许冬岗
Study on the Influence for Structure Parameters on the Hot-Carrier-Effect Immunity in NMOSFET
REN Hong-xia;HAO Yue;XU Dong-gang
电子学报 . 2001, (2): 160 -163 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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