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衬底热电子增强的薄SiO2层击穿特性研究
刘红侠;郝 跃;黄 涛;方建平
Study of Substrate Hot Electron Enhanced Breakdown Characteristics of Thin SiO2
LIU Hong-xia;HAO Yue;HUANG Tao;FANG Jian-ping
电子学报 . 2001, (11): 1468 -1470 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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