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共面微波探针在片测试技术研究
孙 伟;田小建;何炜瑜;张大明;李德辉;衣茂斌
On-Wafer Measurement Techniques Using Coplanar Microwave Probe
SUN Wei;TIAN Xiao-jian;HE Wei-yu;ZHANG Da-ming;LI De-hui;YI Mao-bin
电子学报 . 2001, (2): 222 -224 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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