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功能成品率估算的缺陷特征参数提取方法
郝 跃;马佩军;张卫东;赵天绪
The Method of Defect Model Parameter Extraction for IC Functional Yield Estimation
HAO Yue;MA Pei-jun;ZHANG Wei-dong;ZHAO Tian-xu
电子学报 . 2000, (8): 76 -78 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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