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薄SiO2层击穿特性与临界陷阱密度
林立谨;张 敏
The Breakdown Character of Thin Oxide Film and Critical Trap Density
LIN Li-jin;ZHANG Min
电子学报 . 2000, (8): 59 -62 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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