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热载流子诱生MOSFET/SOI界面陷阱的正向栅控二极管技术表征
何 进;张 兴;黄 如;王阳元
Hot Carrier-Induced Interface Traps in N-Channel MOSFET/SOI Characterized by a Forward Gated-Diode Technique
HE Jin;ZHANG Xing;HUANG Ru;WANG Yang-yuan
电子学报 . 2002, (2): 252 -254 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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