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基于离散模型的IC可靠性与成品率关系
赵天绪;郝 跃;陈太峰;马佩军
Relation Between Reliability and Yield of IC's Based on Discrete Model
ZHAO Tian-xu;HAO Yue;CHEN Tai-feng;MA Pei-jun
电子学报 . 2001, (11): 1515 -1518 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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