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一种抗热载流子退化效应的新型CMOS电路结构
陈勇;杨谟华;于奇;王向展;李竟春;谢孟贤
A New CMOS Circuit Structure for Hot-Carrier Resistance
CHEN Yong;YANG Mu-hua YU Qi;WANG Xiang-zhan;LI Jing-chun;XIE Meng-xian
电子学报 . 2000, (5): 65 -67 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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