学会官网  |  加入学会  |  登录学会  |  English 
浮栅隧道氧化层EEPROM中浮栅上电荷泄漏研究
于宗光;陆锋;徐征;叶守银;黄卫;王万业;许居衍
The Study for Charge Leakage on The Floating-gate of FLOTOX EEPROM
YU Zong-guang;LU Feng;XU Zheng;YE Shou-yin;HUANG Wei;WANG Wan-ye;XU Ju-yan
电子学报 . 2000, (5): 90 -91 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
通讯地址：北京165信箱《电子学报》编辑部
邮政编码：100036
联系电话：010-68600735
电子邮箱：new@ejournal.org.cn
电子学报微信公众号
中国电子学会微信
京ICP备12041980号-1　版权所有 ©《电子学报》编辑部