学会官网  |  加入学会  |  登录学会  |  English 
浮栅ROM与SRAM的辐射效应比较分析
贺朝会;耿 斌;杨海亮;陈晓华;李国政;王燕萍
Comparison and Analysis of Radiation Effects between Floating Gate ROMs and SRAMs
HE Chao-hui;GENG Bin;YANG Hai-liang;CHEN Xiao-hua;LI Guo-zheng;WANG Yan-ping
电子学报 . 2003, (8): 1260 -1262 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
通讯地址：北京165信箱《电子学报》编辑部
邮政编码：100036
联系电话：010-68600735
电子邮箱：new@ejournal.org.cn
电子学报微信公众号
中国电子学会微信
京ICP备12041980号-1　版权所有 ©《电子学报》编辑部