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基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计
赵天绪, 段旭朝, 郝跃
Estimation of Early-Life Reliability Based on Integrated-Circuit Yield Model
ZHAO Tian-xu, DUAN Xu-chao, HAO Yue
电子学报 . 2005, (11): 1965 -1968 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
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