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IC缺陷轮廓分形维估计的小波方法
孙晓丽, 郝跃, 宋国乡
Estimating the Fractal Dimension of IC Defect Outline by Wavelet
SUN Xiao-li, HAO Yue, SONG Guo-xiang
电子学报 . 2006, (8): 1485 -1487 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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