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基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估
冯静
Reliability Assessment for Long-Life Products Based on ADT with Tightened Critical Values
FENG Jing
电子学报 . 2011, (6): 1253 -1256 . 

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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