基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

王伟, 韩银和, 李晓维, 张佑生

Techniques of Leakage Current Optimization Based on Don’t Care Bits in Test Vectors

WANG Wei, HAN Yin-he, LI Xiao-wei, ZHANG You-sheng

电子学报 . 2006, (2): 282 -286 .