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基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系模型
赵天绪, 段旭朝
A Relation Model Between Integrated Circuit Yield and Reliability Based on the Defect’s Uniform Distribution
ZHAO Tian-xu, DUAN Xu-chao
电子学报 . 2012, (
8
): 1665 -1669 . DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.08.027