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一个面向缺陷分析的电路成品率与可靠性的关系模型
肖杰, 江建慧, 杨旭华, 梁家荣
A Defect Analysis-Oriented Relation Model of Circuit Yield and Reliability
XIAO Jie, JIANG Jian-hui, YANG Xu-hua, LIANG Jia-rong
电子学报 . 2014, (4): 747 -755 .  DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.04.020

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
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