学会官网  |  加入学会  |  登录学会  |  English 
接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型
蒋华伟, 李战升, 武松涛
Coupling Loss Model of CICC with Contact Resistance and Cabling Sequence
JIANG Hua-wei, LI Zhan-sheng, WU Song-tao
电子学报 . 2014, (5): 953 -957 .  DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018

创刊日期：1962年创刊（月刊）
主办单位：中国电子学会
ISSN　0372-2112
CN　11-2087/TN
通讯地址：北京165信箱《电子学报》编辑部
邮政编码：100036
联系电话：010-68600735
电子邮箱：new@ejournal.org.cn
电子学报微信公众号
中国电子学会微信
京ICP备12041980号-1　版权所有 ©《电子学报》编辑部