多目标回归旨在使用一组共同的输入变量来预测多个连续变量，其现有方法可归类为问题转换法和算法适应法.它的主要挑战在于如何对输入与输出空间的复杂关系进行建模，以及如何有效利用目标间的相关性.然而，现有的问题转换法很少同时考虑到这两方面.基于此，本文构建了一种问题转换法同时应对这两大挑战，提出了一种结合目标特定特征和目标相关性的多目标回归方法（Multi-Target Regression via Specific Features and Inter-Target Correlations，TSF-TC）.TSF-TC通过对分箱后的样本进行聚类分析构建目标特定特征从而对输入与输出空间的复杂关系进行建模，通过有选择性地堆叠单目标预测值揭示目标间的相关性.本文使用TSF-TC在18个多目标回归数据集上与现有多目标回归方法进行了对比实验，实验结果充分表明了TSF-TC的优势.
低密度奇偶校验（Low Density Parity Check，LDPC）码的译码算法在FPGA实现时常采用整数量化操作，产生误差引起译码性能降低.引入归一化最小和（Normalized Minimum Sum，NMS）译码算法，在校验点信息数据量化的基础上乘以一个取值区间为（0，1）的改进因子减小误差.通过研究改进因子的合理取值，提出了一种随迭代次数取不同改进因子改善量化结果的新量化方法.研究对象为空间数据咨询委员会（The Consultative Committee for Space Data Systems，CCSDS）标准中近地空间应用的（8176，7154）LDPC码，在MATLAB上设计编译码算法程序并完成仿真.仿真结果表明改进量化方法完成译码所需的迭代次数更少，提高了译码性能.通过分析不同信噪比下迭代次数的变化，发现在较高噪声干扰下优势更明显.
为了满足集成微波器件进行高分辨率微波近场测量的需求，本论文提出了一种基于金刚石氮空位（Nitrogen-Vacancy，NV）色心的微波近场成像技术.该技术可用于查找芯片等集成微波器件的干扰源和信号串扰.此微波近场成像方法采用金刚石NV色心颗粒作为场传感器，其中金刚石颗粒固定在锥形光纤的末端.由于塞曼效应，NV色心的光探测磁共振（Optical Detection Magnetic Resonance，ODMR）谱在外部静磁场环境中会分裂成为8个峰，通过测量共振峰频点的Rabi振荡谱，能够得到Rabi频率，接着通过2.8MHz/Gauss换算得出该处的微波场强度，最后通过将所测得所有数据点进行二维图像处理即可得到所测芯片和集成微波器件的表面微波场近场图像.
电光相位调制器（Phase Modulator，PM）因无需偏置，线性调制和插损小等优点，被广泛应用于相干光通信、微波信号产生、处理和测量等领域.调制指数和半波电压是评估PM性能的关键参数.传统基于（Optical Spectrum Analyzer，OSA）的方法面临测量分辨率低和存在测量盲区问题.为此，本文提出了一种基于电谱分析（Unequal Voltage based on Electrical Spectrum Analyzer，UV-ESA）的自校准、高精度的PM特性参数测量方法.该方法利用同频、不同驱动电压比的情况下，通过分析失谐光学载波和调制边带分别与载波拍音电谱，实现PM调制指数和半波电压的高频特性参数测量.该方法不需改变测量链路结构，无需辅助宽带微波源或电光调制器，验证了所提方法的有效性，并对比OSA方法对结果的准确性进行了验证.
